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雙折射測量儀PA-Micro

  • 型 號:
  • 訪問次數:3917
  • 更新時間:2024-07-19
  • 價   格:

雙折射測量儀PA-Micro操作簡單,測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。

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PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

雙折射測量儀PA-Micro主要特點:

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

  • 視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。

  • 更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。

  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

  • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。

  • 高達2056x2464像素的偏振相機

雙折射測量儀PA-Micro應用領域:

  • 通信光纖

  • 晶體

  • 醫學細胞


技術參數:

項次

項目            

具體參數

1

輸出項目

相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa


2

測量波長

520nm


3

雙折射測量范圍

0-130nm


4

測量小分辨率

0.001nm


5

測量重復精度

<1nm(西格瑪)


6

視野尺寸

142x170um3.5x4.2mm
(×2,×5,×10,×20,×50)


7

選配鏡頭視野


8

選配功能    

實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制


測量案例:


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