返回首頁 在線留言 聯系我們
產品圖片 產品名稱/型號 產品描述
  • online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage

    更新時間:2024-07-19

    訪問次數:2093

    查看詳細介紹
    online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版,可升級STS 。 操作簡單,可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。 記錄雙折射的數值數據,以進行進一步詳細分析。
  • 在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM

    更新時間:2024-07-19

    訪問次數:2270

    查看詳細介紹
    在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM,適用于薄膜等生產線上,實現各個環節的雙折射測量。 LIVE實時輸出雙折射的信息。 OK/NG可以在執行Live監測的同時對異常點發出警報。實時記錄雙折射的數值數據,以進行進一步詳細分析??梢酝ㄟ^在系統中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。
  • online雙折射測量儀KAMAKIRI W

    更新時間:2024-07-19

    訪問次數:1279

    查看詳細介紹
    online雙折射測量儀KAMAKIRI W 適用于薄膜等生產線上,實現各個環節的雙折射測量 LIVE實時輸出雙折射的信息 OK/NG可以在執行Live監測的同時對異常點發出警報 操作簡單,可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布 實時記錄雙折射的數值數據,以進行進一步詳細分析。 可以通過在系統中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。
  • WPA-KAMAKIRIonline雙折射測量儀

    更新時間:2024-07-19

    訪問次數:1704

    查看詳細介紹
    歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備,其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結合,研制在線雙折射/殘余應力測量儀,世界上僅有online雙折射測量儀KAMAKIRI可以提供,廣泛應用于光學薄膜,PVA,PC,COP和TAC等領域。
  • 雙折射測量儀PA-300-L

    更新時間:2024-07-19

    訪問次數:2353

    查看詳細介紹
    雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其*技術的光子晶體偏光陣列片,雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。
  • ME-210-T膜厚測量儀

    更新時間:2024-07-19

    訪問次數:1761

    查看詳細介紹
    ME-210-T膜厚測量儀為一種光學系膜厚測量裝置,這個裝置的特點是可以高精度測量1nm一下的極薄膜,也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術,將不能變為可能,以往的技術是無法測量0.5mm厚的玻璃基板,在這項技術下,可進行極薄膜的高精度測量,舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估,也可運用ME-210-T輕松達成。
共 22 條記錄,當前 2 / 4 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
網站首頁 公司簡介 產品中心 招聘中心 技術支持 企業動態 聯系我們 管理登陸
北京歐屹科技有限公司專業提供雙折射測量儀等信息,歡迎來電咨詢!
GoogleSitemap ICP備案號:京ICP備15048507號-2 技術支持:化工儀器網
AAA级精品久久久国产片|色老久久精品selao|新精品国偷自产在线|亚洲乱码伦小说区