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如何使用雙折射儀測量樣品的雙折射值和方向?
更新時間:2023-05-22   點擊次數:731次
   雙折射儀是一種測量材料雙折射性質及其參數的儀器,可用于測量光學單晶、晶體、液晶等材料的雙折射值和方向。在使用雙折射儀測量樣品的雙折射值和方向時,需要進行以下步驟:
 
  1.樣品的制備
 
  選取所需的樣品,對其進行打磨或切割處理。樣品的制備需要注意,在樣品表面應該沒有太深或者太淺的裂紋,氣泡以及其他污染物,以免影響雙折射的測量。
 

 

 
  2.樣品的設置
 
  將經過打磨和切割處理的樣品放置于樣品臺上,并根據需要設置樣品的方向和位置。
 
  3.調節參數
 
  需要根據具體的樣品,調節其工作參數,以便進行準確測量。需要調整像差補償,根據樣品大小調節數值光柵的位置,并累加光團的圖像,以增強樣品的信號-噪聲比。
 
  4.觀察樣品的雙折射現象
 
  在雙折射測量過程中,需要觀察樣品的雙折射圖案和色澤變化,以確定樣品的雙折射現象。首先觀察樣品的測試位置,觀察到細小的雙折射圖片后,再調整像差補償、網規的水平,讓圖樣清晰。
 
  5.測量雙折射值與方向
 
  確定樣品的雙折射方向后,可以開始對其進行雙折射值的測量。在雙折射儀中,需要通過改變垂直于樣品光線的旋轉角度來進行測量。通常,通過旋轉樣品,可以記錄其在不同角度下的雙折射值,并計算雙折射值與角度的關系曲線。
 
  通過以上步驟,即可在雙折射儀中測量樣品的雙折射值與方向。但是,在實際測量過程中,還需要注意以下幾點:
 
  首先,需要進行足夠的預照明時間,以保證測量的準確性和穩定性。
 
  其次,在測量過程中要注意垂直樣品表面的光線照射,并且要記錄下每一個測量點的光照位置,以便準確控制其位置和角度。
 
  最重要的是,測量的結果要進行多次測量并取平均值,以減小實驗誤差。

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